索引の研究室試験装置30mm-40mmの調節可能な低下の高さの追跡

プラスチック試験装置
2025-07-09
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IEC60587 ASTMD2303の電気追跡のメカニズム 技術的な記述: 50のHzの原因の頻度のAC 3.5 kVのの高圧を使用してエポキシ樹脂絶縁体の電気侵害のメカニズム燃えるエポキシ樹脂絶縁体の表面。 標準: IEC60587-2007 ASTMD2303 変数: 名前 DX8427高圧追跡の索引のテスター 箱 ≥ 0.5立方メートル 低下のサイズ 44から50の低下/cm3 電源 AC ... もっと見る
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